◎研究方向 光学微纳计算测量、智能光电传感技术、偏振光成像、高温超导体物性研究
以员工为本,互相真诚尊重,尽最大努力做到因材施教。 欢迎对集成电路、半导体、光伏等行业中微纳测量技术以及智能光电传感技术感兴趣的同学联系! (每年招收硕士研究生1-2名;本科生也欢迎,提前感受科研乐趣) 课题组实力雄厚,经费充足,详见主页:https://www.x-mol.com/groups/dzzhang
◎教育经历 2020.09-2025.06,山东大学,光学工程,博士(硕博连读) 2016.09-2020.06,山东大学,电子科学与技术,学士
◎工作经历 2025年9月至今,太阳成集团,太阳成集团tyc33455ccwww
◎学术兼职 中国光学学会会员 担任《Nature Communications》《Optics Letters》《Applied Physics Letters》《APL Materials》《Journal of Alloys and Compounds》《Optical Materials》等期刊审稿人
◎主讲课程
◎指导研究生及博士后
◎承担项目 《高通量超导组合薄膜的成像椭圆偏振光谱研究》,主持。 《面向多层膜堆叠工艺的膜厚智能化计算测量》,主持。 《高通量组合界面制备及其电子结构调控》,参与。 《磁性纳米薄膜磁畴成像理论及关键技术研究》,参与。 《Mg1-xLixTi2O4纳米薄膜介电响应机制的研究》,参与。
◎获奖情况
◎荣誉称号
◎著作
◎论文 [1]Wang Y, Sun W, Zhao M, et al. In-plane and out-of-plane anisotropy in the optical and dielectric properties of YBa2Cu3O7-x superconducting film, Applied Surface Science 673 (2024) 160896. [2] Wang Y, Wei M, Li Y, et al. Study of composition-modulated interband transitions characteristic and charge dynamics response of high-throughput FeSe1-xTex combinatorial film, Journal of Alloys and Compounds 1003 (2024) 175559. [3] Wang Y, Li Y, Wei M, et al. Composition-dependent optical, dielectric and d-orbital electron characteristic of high-throughput horizontal composition gradient Li1-xMgxTi2O4 combinatorial film, Journal of Alloys and Compounds 987 (2024) 174192. [4] Wang Y, Wei M, Han Y, Lian J. Study of in-plane optical anisotropy of two-dimensional ReS2 and ReSe2 based on imaging spectroscopic ellipsometry, Vacuum 233 (2025) 114026. [5] Wang Y, Lian J, Wei M, et al. Optical property and pseudogap study of FeSe thin films on different substrates, Optical Materials 131 (2022) 112727. [6] Wang Y, Lian J, Wei M, et al.Optical properties study of high-throughput horizontal composition gradient FeSe1-xTex thin film based on ellipsometry, Thin Solid Films 770 (2023) 139785. [7]Wang C, Wang Y, Gao Y, et al. Unraveling Tunable Optical Anisotropy in Colloidal Quantum Wells Using Mueller Matrix Ellipsometry, Journal of Physical Chemistry Letters 16 (2025) 100994.
◎专利 1. 基于椭圆偏振成像的光纤折射率测量装置、方法及应用。 2. 一种用于光纤折射率的微区椭偏测试的样品台。 |